立足先进工艺Signoff
打造τ-Aware工具框架
当芯片设计进入后摩尔时代,τ(时间常数)作为统一度量。行芯以经过量产验证
的Signoff为根基,将签核级精度前移至设计全流程,打造τ-Aware工具框架。
行芯科技以τ=RC为锚点,打造τ-Aware工具框架,覆盖规划、提取、分析、收敛四层,为先进工艺与3DIC提供一体化Signoff。
面向先进工艺PDK开发、高端芯片与3DIC异构集成,提供覆盖RC提取、时序、功耗、电源及热仿真的全链路电签核方案。

• 实现高保真3D工艺模型建立 、器件级高精度寄生参数提取、EM检查规则全流程开发... • 适用于FinFET、GAA先进工艺PDK开发、晶圆厂PEX精度验证与认证、Fabless PDK适配与优化等场景

• 实现任意堆叠寄生抽取与建模、电源完整性与电迁移签核、功耗-热耦合多物理分析... • 适用于GPU/AI大算力3D堆叠芯片、多工艺多Fab异构集成SoC、HBM高带宽存储堆叠芯片电签核需求

• 实现全芯片RC寄生参数提取、电源完整性与电迁移签核、静态时序分析签核... • 适用于AI 训练/推理芯片、高性能CPU/GPU芯片 、5nm、3nm、GAA等先进节点芯片设计的电签核需求
杭州行芯科技有限公司(简称”行芯科技”),立足先进工艺Signoff,打造τ-Aware工具框架。公司以时间常数τ=RC第一性原理为物理锚点,依托自研Signoff一体化平台,将Signoff能力前置到设计全流程,落地DTCO设计与工艺协同优化,系统性解决时序、寄生提取、电热耦合、电源完整性、可靠性等Signoff难题,助力芯片实现PPA协同优化,推动芯片设计从经验驱动到数据驱动的范式转移。