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GloryEye®
全芯片静态时序分析工具

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GloryEye®

GloryEye是一款全芯片静态时序分析工具,是τ-Aware工具框架中芯片签核的时序签核核心。集静态时序分析、信号完整性分析和功耗分析于一体,支持NLDM和CCS双时序模型。可高效处理超过100M Flatten、500M Hierarchy。

主要功能

时序检查:支持Setup、Hold、Recovery等各类时序检查模式配置,覆盖全场景时序校验需求
时序约束:支持时钟、输入延迟、输出延迟等主流时序约束的定义与解析
GBA/PBA双分析模式:支持基于GBA、PBA两种分析模式,PBA包含Path、Exhaustive双模式,有效降低时序悲观度
NLDM/CCS双模型:兼容NLDM、CCS两种时序模型,全面覆盖7nm及以下先进工艺与传统成熟工艺
变异分析:支持GOCV、AOCV、POCV三大片上变异模型,适配成熟工艺至14nm及以下先进制程
SI分析:集成信号完整性分析能力,支持串扰延迟(Crosstalk Delay)、毛刺(Glitch)分析
CRPR:消除时钟路径重复计算带来的时序悲观值,进一步提升时序分析精度
Hyperscale STA Flow:支持层级化时序签核流程
分布式多场景分析:支持多频率、多电压、多工艺角组合并发分析
多电压域分析:适配低功耗设计,支持多电压域时序分析,包含电平转换电路时序校验
3DIC时序分析:支持2.5D/3D堆叠芯片时序分析,考量垂直互连结构带来的时序影响
SPICE级高精度引擎:自研RC计算引擎,依托精准寄生参数与工艺库,实现逼近SPICE仿真的计算精度
集成功耗与时序分析:集成静态功耗、动态功耗分析能力,实现时序与功耗一体化签核
TWF文件导出:支持导出时序窗口(TWF)文件,可用于PI工具的IR压降、动态功耗及电迁移分析

产品亮点

01

多模式多角时序并行分析
分布式多场景引擎支持多电压、多模式、多工艺角并发时序验证,具备从模块级到全芯片级的灵活分析能力

02

完整变异与SI分析支持
支持GOCV、AOCV、POCV三大片上变异模型;集成信号完整性分析,支持串扰延迟(Crosstalk Delay)、毛刺(Glitch)分析;支持CRPR消除时钟路径重复计算悲观值

03

可拆分时序签核分析
针对超大规模设计,支持将整体设计分解为多个独立签核任务并行处理,显著减少人工干预,加快设计迭代周期

04

SPICE级高精度引擎
基于精准寄生参数与工艺库信息,实现逼近SPICE仿真的计算精度;支持GBA、PBA双分析模式,PBA包含Path、Exhaustive双模式

05

τ-Aware 3D逻辑折叠全链路时序签核
原生支持3D堆叠架构跨层时序分析,完整反标混合键合、TSV等垂直互连结构寄生参数;采用分层递进式同源时序引擎,不同设计阶段按需开启对应时序效应层级

应用场景

应用场景

大规模数字芯片(CPU、GPU、MCU等)的门级时序签核。超过支持100M Flatten设计规模和500M Hierarchy设计规模

立足先进工艺Signoff
打造τ-Aware工具框架

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