基于随机漫步法(Random Walk)高效求解 Maxwell 方程,适用于复杂三维结构的寄生参数提取。具备优异的并行扩展性,广泛应用于标准单元和 IP 模块的寄生参数求解,尤其适用于关键路径的寄生效应分析。通过对 Fin 结构等关键特征精确建模,有效表征 Pcell 与标准单元电气特性,为芯片设计提供高可靠性的寄生参数数据基础。
一款通过硅验证的高精度电迁移(EM)和电压降(IR Drop)分析工具,满足行业黄金标准。支持数十亿规模单元的超大规模设计全芯片签核分析,涵盖电源网络电迁移、信号线电迁移、电压降及可靠性分析。支持 2.5D 与 3D 任意堆叠封装及多种键合形式,基于弹性计算架构提供超大容量应对超大规模 IC 设计挑战。