EN
GloryEye

全芯片静态时序分析工具

产品概述

GloryEye是集静态时序分析、信号完整性分析和功耗分析等功能于一体的高精度静态时序分析(Static Timing Analysis,STA)工具,具备全量设计约束解析处理能力和业界领先的硅数据相关性。采用创新的变异感知建模和计算架构,支持非线性延迟模型(NLDM)和复合电流源(CCS)双时序模型。通过智能多核并行计算引擎和优化的内存管理机制,能够高效处理超大规模设计,同时支持扁平化和层次化分析流程,为芯片设计提供从RTL到GDSII的完整时序验证支持,帮助设计团队实现更高效的时序收敛。

官网英文版本图片-32.jpg

产品亮点
  • 支持3DIC设计静态时序分析:全面支持3DIC结构的寄生参数提取与反标,结合先进的层级化签核流程,可高效应对大规模芯片的时序验证挑战。

  • 支持多模式多角时序并行分析:提供分布式多场景引擎,支持多电压、多模式、多工艺角并发时序验证,通过智能调度实现多线程优化,具备从模块级到全芯片级的灵活分析能力,大幅提升验证效率。

  • 支持可拆分时序签核分析:针对超大规模设计,提供可拆分的时序签核解决方案,支持将整体设计分解为多个独立签核任务并行处理,有效解决数据规模与运行时瓶颈。该流程高度自动化,显著减少人工干预,加快设计迭代周期。

    官网中文版本图片-29.jpg



©2026杭州行芯科技有限公司版权所有 浙ICP备19047930号-2 浙公网安备 33010802011331号