GloryEX 是一款芯片级 RC 寄生参数提取工具，可为数字芯片、模拟芯片、SoC 等多种设计应用场景提供高性能 RC 寄生参数提取解决方案，且精度满足签核流程要求。在 SoC 设计应用方面，可支持超大规模数亿门级集成电路门极寄生网表提取，并与主流的后端设计平台完美融合，同时无缝链接行芯的其他各类签核工具，提供一站式签核解决方案。在模拟设计应用方面，GloryEX 支持第三方工具提供的LVS数据库作为输入，并可结合 GloryEX3D 计算引擎，对先进工艺的晶体管结构进行精确建模，满足高精度晶体管级寄生网表提取，并与第三方平台工具兼容，满足用户易用性需求。 GloryEX 针对不同的工艺节点，提供多种工艺效应的建模，包括 OPC（光学邻近效应)、CMP（化学机械平坦化）效应、Low-k Damage 效应、双重/多重曝光效应等，其精度得到晶圆厂认证，并已在客户设计应用上通过流片验证。