GloryEX
全芯片RC寄生参数提取工具
GloryEX为芯片设计提供Signoff精度的高性能RC寄生参数提取解决方案。支持先进工艺节点的物理效应建模,面向先进工艺的超高精度3D求解器,支持16/14/12/10/7nm节点
以及更先进节点FinFET及其他复杂特殊结构。首创人工智能辅助的交互式建模技术,大幅降低先进工艺建模难度,无缝融合3D和2.5D工艺定义和提取,提供Transistor-Level和Gate-Level一站式参数提取,支持不同精度选择和不同设计用户的签核需求。
GloryEX内置的3D场求解器可作为最高精度的参考工具或提供给用户最准确的计算结果,具有自主先进的Tech File,并兼容现有常用Tech File。
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